CENTRO DE CIENCIAS DE LA MATERIA CONDENSADA

22800 ENSENADA, B.C.

Información General

Dependencia: Centro de Ciencias de la Materia Condensada, UNAM.

Nombre del titular de la dependencia: Dr. Sergio Fuentes Moyado.

Dirección y teléfono: Km. 107 Carretera Tijuana-Ensenada, Ensenada BC; Tel (646) 174 4602; FAX: (646) 174 4603. Teléfono local desde la ciudad de México 56 22 65 20 al 24.

Dirección postal: Apartado Postal 356, Ensenada, 22800 BC.

El Centro de Ciencias de la Materia Condensada ofrece tres programas de Posgrado. Estos son: 1) Maestría y Doctorado en Física de Materiales, 2) Posgrado en Ciencias Físicas y 3) Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales. El primero de ellos es resultado de una colaboración con el Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada (ciceseEducación Superior de Ensenada () otorga los grados académicos y administra el programa), los otros dos programas dependen de la Dirección General de Estudios de Posgrado de la unamde la Dirección General de Estudios de Posgrado de la , por lo que la unamlo que la otorga los grados académicos. Para mayor información de cualquiera de los programas, favor de consultar la página: http://www.ccmc.unam.mx o dirigirse a los coordinadores de cada uno de estos.

Programas de posgrado

Posgrado en Física de Materiales

La Maestría y el Doctorado en Física de Materiales son posgrados interinstitucionales que se ofrecen desde 1986 mediante un convenio de colaboración entre la unam y el cicese. Están administrados por el cicese y regidos por su reglamento de Estudios de Posgrado. Ambos programas se encuentran inscritos en el padrón del Programa Nacional de Posgrado de calidad (pnpc) del conacyt como posgrados consolidados, lo cual nos permite ofrecer becas a nuestros alumnos. El 60% de los Profesores de Tiempo Completo que participan en el doctorado y el 55% de los que participan en la maestría tienen los niveles más altos (ii y iii) en el Sistema Nacional de Investigadores (sni). Hasta la fecha se ha tenido un total de 44 egresados de Maestría y 74 de doctorado, entre los cuales hay 13 egresados en los niveles ii y iii en el sni.

El plan de estudios de la maestría consta de dos años: durante el primero se deben cubrir 48 créditos en cursos y elaborar un proyecto de investigación. Posteriormente, se debe llevar al cabo la investigación y escribir una tesis, la cual deberá ser defendida al final del segundo año. Para los mejores alumnos de la maestría existe un mecanismo de transición al doctorado directo.

El programa de doctorado está enfocado a la investigación y está diseñado para cursarse en un tiempo que varía entre 3 y 4 años, dependiendo de la formación previa del estudiante. El programa de estudios es flexible y personalizado, incluye cursos y trabajo de investigación; los lineamientos generales pueden consultarse en las páginas web del programa: http://www.ccmc.unam.mx/posgrado/fm/menu_p_fm.html y http://posgrado.cicese.mx/. Entre los requisitos para obtener el grado se encuentran la escritura y defensa de una tesis y la publicación de al menos un artículo de investigación en una revista de circulación internacional, con arbitraje.

Lineas de investigacion: Se cuenta con 5 líneas de generación y/o aplicación del conocimiento; todas ellas son sólidas y bien establecidas, las cuales se enumeran a continuación.

• física teórica de nanoestructuras,
• sistemas nanoestructurados,
• fisicoquímica de materiales,
• materiales multifuncionales,
• propiedades ópticas de materiales.

Para mayor información acerca de los programas de estudios, requisitos de admisión y para la obtención de grados, datos estadísticos, etc, favor de referirse a la página de información general del cicese, en este catálogo y a las páginas web: www.ccmc.unam.mx y http://posgrado.cicese.mx.

Dependencia responsable de la administración del programa: CICESE.

Dependencia coordinadora del Programa Académico: CCMC.

Nombre del responsable académico del programa: Dra. Laura Viana Castrillón, Coordinador del Posgrado en Física de Materiales, laura at ccmc.unam.mx.

Periodo de estudios: trimestral (septiembre-diciembre, enero-abril, abril-julio).

Maestría y Doctorado en Ciencias (Física)

Posgrado en Ciencias Físicas - unam. El ccmc es una de las nueve entidades participantes en el Posgrado en Ciencias Físicas de la unam. Este programa pertenece al Padrón Nacional de Posgrados de Calidad del conacyt, como posgrado de Nivel Internacional. Aunque el programa comenzó a operar en el ccmc en el año de 1998, tiene como antecedente directo el programa de Posgrado en Física impartido en la Facultad de Ciencias por cerca de 50 años. La calidad de la formación académica de los egresados de este posgrado ha jugado un papel fundamental en el desarrollo de la investigación en física en todo el país. En 1997, el programa de Posgrado en Física fue adecuado para cumplir con los lineamientos del Reglamento General de Estudios de Posgrado (rgep) vigente. Los planes de estudio actuales corresponden a:

• Maestría en Ciencias (Física)
• Maestría en Ciencias (Física Médica)
• Doctorado en Ciencias (Física)

Para mayor información acerca de los programas de estudios, requisitos de admisión y para la obtención de grados, datos estadísticos, etc, favor de referirse a la página de información general de la Universidad Nacional Autónoma de México (unam) de este catálogo y a la página web: http://www.posgrado.fisica.unam.mx.

Dependencia a cargo del Programa: Dirección General de Estudios de Posgrado de la UNAM.

Nombre del responsable del programa: Dr. Manuel Torres Labansat, Coordinador del Posgrado en Ciencias Físicas.

Nombre del responsable en Ensenada: Dr. Ernesto Cota Araiza, Coordinador local, ernesto at ccmc.unam.mx.

Periodo de estudios: semestral (agosto-diciembre y febrero-junio).

Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales

El ccmc está asociado al programa de posgrado en Ciencias e Ingeniería de Materiales de la unam, junto con otras cuatro entidades académicas. Este programa pertenece al Padrón Nacional de Posgrados de Calidad del conacyt, como posgrado de Nivel Internacional. Para mayor información acerca de los programas de estudios, requisitos de admisión y para la obtención de grados, datos estadísticos, etc, favor de referirse a la página de información general de la Universidad Nacional Autónoma de México (unam) de este catálogo y a página web www.posgrado.unam.mx/progposg/pcimat.html

Dependencia a cargo del Programa: Dirección General de Estudios de Posgrado de la UNAM.

Nombre del responsable del programa: Dr. Ricardo Vera Graziano, Coordinador del Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales.

Nombre del responsable en Ensenada: Dr. Jesús L. Heiras Aguirre, Coordinador local, heiras at ccmc.unam.mx.

Periodo de estudios: semestral (agosto-diciembre y febrero-junio).

Profesores

Investigadores titulares:

Ávalos Borja, Miguel,
Dr., Univ. de Stanford, EUA (1983). (E,T): Microscopía electrónica y simulación de estructuras atómicas. Dirección electrónica: miguel at ccmc.unam.mx.

Bogdantchikova, Nina,
Instituto de la Catálisis de Academia de Ciencias de Rusia, Novosibirsk, Rusia (1981). (E,T): Catálisis y Fisicoquímica. Dirección electrónica: nina at ccmc.unam.mx.

Castillón Barraza, Felipe Francisco,
Dr., cicese, México (1998), Síntesis, Caracterización y Actividad Catalítica de Catalizadores. Dirección electrónica: castillo at ccmc.unam.mx.

Contreras López, Oscar Edel,
Dr., cicese (1999), (E): Crecimiento y caracterización estructural de películas delgadas. Dirección electrónica: oscar-contreras at ccmc.unam.mx.

Cota Araiza, Ernesto,
Dr., fcunam (1977). (T): Sistemas desordenados. Dirección electrónica: ernesto at ccmc.unam.mx.

Cota Araiza, Leonel S.,
Dr., Univ. de Warwick, Inglaterra (1974). (E): Física de superficies. Dirección electrónica: leonel at ccmc.unam.mx.

de la Crúz Hernández, Wencel José,
Dr., cicese, México (2001), (E): Crecimiento y caracterización estructural de películas delgadas. Dirección electrónica: wencel at ccmc.unam.mx.

Farías Sánchez, Mario H.,
Dr., cinvestav (1981). (E): Física de superficies. Dirección electrónica: mario at ccmc.unam.mx.

Fuentes Moyado, Sergio,
Dr., Univ. de Lyon, Francia (1979). (E): Catálisis y fisicoquímica. Dirección electrónica: fuentes at ccmc.unam.mx.

Galván Martínez, Donald Homero,
Dr., Univ. del Sur de Illinois, EUA (1986). (E,T): Física atómica y superconductores. Dirección electrónica: donald at ccmc.unam.mx.

Heiras Aguirre, Jesús Leonardo,
Dr., Fac. de Ciencias-UNAM, (1979). (E): Superconductividad y Ferroeléctricos. Dirección electrónica: heiras at ccmc.unam.mx.

Hirata Flores, Gustavo Alonso,
Dr., CICESE, México (1993). (E): Física de superficies. Dirección electrónica: hirata at ccmc.unam.mx.

Machorro Mejía, Roberto,
Dr., INAOE (1986). (E): Propiedades ópticas de superficies y películas delgadas. Dirección electrónica: roberto at ccmc.unam.mx.

Maytorena Córdova, Jesús Alberto,
Dr. Universidad Autónoma del Estado de Morelos (1998). (T) Propiedades electromagnéticas de superficies y sistemas inhomogéneos. Dirección electrónica: jesusm at ccmc.unam.mx.

Mireles Higuera, Francisco,
Dr., Ohio University, Athens Ohio, E.U.A (1999). (T) Transporte Electrónico y Espines, Espintrónica. Dirección electrónica: fmireles at ccmc.unam.mx.

Morales de la Garza, Leonardo,
Dr., Universidad de Cambridge, Inglaterra (1982). (E): Física de superficies. Dirección electrónica: leonardo at ccmc.unam.mx.

Moreno Armenta, María Guadalupe,
Dra., CICESE, México (2000). (T): Estructura electrónica y física de superficies. Dirección electrónica: moreno at ccmc.unam.mx.

Olivas Sarabia, Amelia,
Dr., CICESE (1998). (E) Catálisis. Dirección electrónica: amolsa at ccmc.unam.mx.

Petranovski, Afanasievna Vitali,
Dr., Instituto de Cristalografía Academia de Ciencias de la Unión Soviética, Rusia (1988): (E,T). Catálisis y fisicoquímica. Dirección electrónica: vitali at ccmc.unam.mx.

Raymond Herrera, Oscar,
Dr., Instituto Superior Pedagógico Enrique José Varona, Cuba (1999). (E): Materiales cerámicos. Ferroeléctricos. Dirección electrónica: raymond at ccmc.unam.mx.

Reyes Serrato, Armando,
Dr., CICESE (1996). (T): Estructura electrónica. Dirección electrónica: armando at ccmc.unam.mx.

Rojas Iñiguez, Fernando,
Dr., Univ. de Manchester, Inglaterra (1996), (T): Mecánica estadística. Dirección electrónica: frojas at ccmc.unam.mx.

Sámano Tirado, Enrique C.,
Dr., Stevens Institute of Technology, EUA (1992). (T): Física de superficies. Dirección electrónica: samano at ccmc.unam.mx.

Simakov, Andrey,
Dr., Boreskov Instituto de Catálisis, Novosibirsk (1991): Catálisis. Dirección electrónica: andrey at ccmc.unam.mx.

Siqueiros Beltrones, Jesús Ma.,
Dr., CICESE (1988). (E): Propiedades ópticas de superficies y películas delgadas. Dirección electrónica: jesus at ccmc.unam.mx.

Soto Herrera, Gerardo,
Dr., CICESE (1999), (E) Materiales Duros. Dirección electrónica: gerardo at ccmc.unam.mx.

Takeuchi Tan, Noboru,
Dr., Iowa State University, EUA (1990). (T): Estructura electrónica y física de superficies. Dirección electrónica: takeuchi at ccmc.unam.mx.

Valenzuela Benavides, José,
Dr., CICESE (1995). (E): Microscopía de tunelamiento. Dirección electrónica: valenzue at ccmc.unam.mx.

Viana Castrillón, Laura,
Dra., Univ. de Manchester, Inglaterra (1984). (T): Sistemas desordenados. Dirección electrónica: laura at ccmc.unam.mx.

Xiao, Mufei,
Dr., Aalborg Univ., Dinamarca (1994). (T): Óptica de campo cercano. Dirección electrónica: mufei at ccmc.unam.mx.

Investigadores asociados:

Durán Hernández, Alejandro César,
Dr., Fac. de Ciencias Químicas, UNAM, México (2002). Fisicoquímica. Dirección electrónica dural at ccmc.unam.mx.

Cruz Jáuregui, Ma. de la Paz,
Dra., CICESE, México (2002), (E): Ferroeléctricos y propiedades ópticas de superficies y películas delgadas. Dirección electrónica: mcruz at ccmc.unam.mx.

Herrera Zaldívar, Manuel,
Dr., Int. De Física, Universidad Autónoma de Puebla, México (2002). (E): Física de Superficies. Dirección electrónica: zaldivar at ccmc.unam.mx.

López Bastidas, Catalina,
Dra., Universidad Autónoma de Morelos, México (1994). (T) Propiedades electromagnéticas de superficies y sistemas inhomogéneos. Transporte electrónico a través de moléculas. Dirección electrónica: clopez at ccmc.unam.mx.

Departamentos

Catálisis: Tiene como objetivos investigar nuevos materiales catalíticos para la protección al medio ambiente, utilizando técnicas avanzadas de síntesis y de caracterización de la estructura cristalina, la estructura electrónica y las propiedades de la superficie y establecer la correlación de esas propiedades con la actividad catalítica en reacciones de conversión de moléculas contaminantes. Las líneas de investigación son: 1) Sulfuros de metales de transición como catalizadores de hidrotratamientos; 2) metales nobles soportados como catalizadores para la conversión de gases contaminantes (HC, NO, CO, NOx y COV); 3) estabilización de clusters metálicos en el interior de zeolitas; 4) Desarrollo de materiales nuevos (catalizadores, materiales microbicidas de espectro amplio) en base a cúmulos de plata, oro o cobre, estabilizados dentro de tamices moleculares y soportes amorfos.

Física teórica: El trabajo de investigación de este Departamento se desarrolla a lo largo de las líneas siguientes: 1) transporte electrónico y de espines (espintrónica) en nanoestructuras; 2) física estadística de sistemas desordenados y fuera de equilibrio; 3) cálculos de propiedades estructurales y electrónicas de materiales con aplicaciones como recubrimientos duros, recubrimientos resistentes a la corrosión, en catálisis y optoelectónica; 4) propiedades dieléctricas de superficies y sistemas inhomogéneos.

Fisicoquímica de superficies: Muchas de las aplicaciones tecnológicamente importantes de los materiales dependen del estudio de su superficie. Para esto se aplican espectroscopías sensibles a la superficie, tales como espectroscopía Auger de barrido (AES), fotoemisión por rayos X (XPS), fotoemisión-UV (UPS), difracción de electrones de baja energía (LEED) y espectroscopía de masas para análisis de gases residuales (RGA). Algunos de los materiales analizados, también son preparados en el mismo laboratorio. La preparación de nuevos materiales y multicapas cristalinas se lleva a cabo usando las técnicas de Ablación por Laser, erosión iónica por radiofrecuencia y con cañón de electrones. Se estudian propiedades físicas de aceros nitrurados, materiales irradiados, superconductores, películas de diamante, metales de transición, etcétera.

Nanoestructuras: El ordenamiento de los átomos en una superficie o en el volumen de un material es de vital importancia para poder explicar las propiedades físicas y químicas de los nuevos materiales. Para lograrlo utilizamos técnicas experimentales tales como difracción de rayos-X y de electrones (xrd, leed), diversas microscopías y espectroscopías (tem, sem, stm, aes, rga), así como cálculos teóricos de primeros principio o semiempíricos. Las líneas de investigación son: 1) propiedades electrónicas y estructurales de películas pelgadas (materiales luminscentes, materiales de alta dureza, propiedades ferroeléctricas); 2) propiedades electrónicas y estructurales de materiales (semiconductores, metales); 3) estructuras de superficie y mecanismos de adsorción en sistemas adsorbato/metal en ambientes de ultra alto vacío y electroquímico; 4) Estudios de carburos y fosfuros de interés catalítico; 5) Mecanismos de formación de nanofilamentos de carbón y su importancia en la reacción de combustión del metano; 6) desarrollo de nanoposicionadores utilizando cristales piezoeléctricos.

Propiedades ópticas: El Departamento de Propiedades Ópticas realiza investigación en dos líneas bien definidas: La primera se enfoca en el estudio de las propiedades ópticas de los materiales utilizando, entre otras, técnicas espectroscópicas como la elipsometría, la espectrofotometría, la espectroscopía de plasmas y la microscopía óptica de campo cercano que, además de ser técnicas de medición, son, en sí mismas, objeto de investigación. La segunda línea se refiere a la investigación sobre cierto tipo específico de materiales con potencial aplicación tecnológica como son los recubrimientos duros, los materiales ferroeléctricos en forma cerámica y en películas delgadas así como materiales susceptibles de ser utilizados como electrodos en dispositivos, ya sean metálicos, óxidos conductores o superconductores.

Infraestructura actual

Laboratorios de Fisicoquímica de Superficies: Sistema de preparación de muestras por ablación láser y análisis de superficies (xps, aes, els), marca Riber ldm 32. Microscopio Auger de barrido phi-595 Microscopio Auger de barrido y espectroscopía de masas de iones secundarios (sims). Láser de Excímero-UV, Lextra 200. Sistema de depósito de películas por ablación láser y resonancia electrónica por ciclotrón (ecr). Sistema de crecimiento de películas delgadas por erosión iónica (sputtering). Sistema de medición de luminiscencia. Láser pulsado de estado sólido YAG:Nd. Spectra-Physics INDI-40-10-HG, energía máxima de salida de 450 mJ a 1064 nm y frecuencia de 10 Hz. Espectrógrafo 1/4m con ccd. Marca Oriel, Modelo MS260i. Lámpara de xenón (Hg) de 600 watts. Reactor de alta presión y alta temperatura. Hornos de alta temperatura y de vacío. Reactor de CVD para crecimiento de películas delgadas. Microscopio de fuerza atómica (afm). Espectrómetro de infrarrojo por Transformada de Fourier (ftir) en el rango espectral de infrarrojo medio/lejano. Susceptómetro magnético Maglab 2000. Laboratorio de preparación de muestras (general).

Nanoestructuras: Microscopio Electrónico de Transmisión (tem) jeol 2010, equipado con Espectrómetro de Pérdidas de Energía eels, (mod. Gatan, 666). Microscopio Electrónico de Barrido (sem) jeol-5300, con espectrómetro de Dispersión de Energía (Kevex). Microscopio de Barrido por Tunelaje Electrónico (stm) para electroquímica in situ. Sistema de Ultra Alto Vacío con técnicas de leed, aes, stm, rga. Difractómetro de Rayos X (Philips X'PERT). Laboratorio de preparación de muestras: pulido, erosión iónica, etc. Laboratorio de fotografía. Estaciones de trabajo alpha-dec y ALPHA-Aspen. 6 computadoras PC con sistema operativo linux. Software para cálculos ab-initio: cpmd, siesta, ab-init, pwscf y wien97.

Propiedades Ópticas: Sistema de depósito de películas por ablación láser (Láser de KrF). Elipsómetro Espectroscópico Autómatico uvisel de Jobin-Yvon. Espectrofotómetro Perkin Elmer 300. Elipsómetro Gaertner L119. Reflectómetro rta construído en el Laboratorio. Reflectómetro para el espectrofotómetro construído en el Laboratorio. Mesa Óptica. Plantas de evaporación de películas delgadas (RF Sput, Ablación Láser). Laser de He-Cd. Monocromadores IR-VIS. Equipos para caracterización de propiedades dieléctricas y ferroeléctricas

Servicios de Apoyo: El ccmc-unam, cuenta con unidad administrativa, taller mecánico, taller de electrónica, biblioteca, sistema de cómputo, laboratorio de fotografía, y laboratorio de preparación de muestras, acceso al servicio de red red unam.